Fundamentos de metrologia científica e industrial - revisada, atualizada e ampliada - 2ª Edição | 2017

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Edição: 2ª Edição
Autor: Armando Albertazzi G. Jr. | André R. de Sousa
Acabamento: Brochura
ISBN: 9788520433751
Data de Publicação: 28/09/2017
Formato: 22.5 x 15.5 x 2.5 cm
Páginas: 480
Peso: 0.41kg


Sinopse

Este livro foi inicialmente concebido como material de apoio para o aprendizado da metrologia nos cursos de graduação e pós-graduação nas áreas das engenharias, ciências exatas e afins. A abordagem intuitiva e o sequenciamento progressivo adotado tornam o livro adequado para pessoas autodidatas, bem como acessível para cursos técnicos e de educação continuada. Esta nova edição acrescenta um capítulo sobre o uso de simulações numéricas para estimar incertezas de medição e um novo anexo com conceitos de estatística apresentados de forma intuitiva. O objetivo é que esta obra possa conduzir o leitor à compreensão e aplicação consciente da metrologia em favor do aumento da confiabilidade do trabalho experimental.
Capítulo 1 – Medir
Capítulo 2 – Unidades de medida e sistema internacional
Capítulo 3 – Erro de medição
Capítulo 4 – Sistema de medição
Capítulo 5 – Calibração de sistemas de medição
Capítulo 6 – Resultados de medição diretas
Capítulo 7 – Resultados de medições indiretas
Capítulo 8 Propagação de incertezas através de módulos
Capítulo 9 – Análise de incerteza através de simulação numérica
Capítulo 10 – Controle de qualidade
Capítulo 11 – Seleção de sistemas de medição
Capítulo 12 – Confiabilidade de processos de medição na indústria
Nota: HTML não suportado.
Avaliação
Ruim Bom

Etiquetas: metrologia, metrologia científica, metrologia industrial, mecânica, calibração de sistemas, medições diretas, medições indiretas, sistema de medição, erro de medição, unidades de medida e sistema internacional, sistema internacional de medidas, engenharia, trabalho experimental, simulações numéricas